Publication details

Introduction to Statistical Pattern Recognition

Conference Paper (international conference)

Pudil Pavel, Somol Petr, Haindl Michal


serial: MATEO - The European Network of Mechatronics Centres and Industrial Controllers 2006, p. 163-170 , Eds: Troblova 

action: MATEO - The European Network of Mechatronics Centres and Industrial Controllers 2006, (Železná Ruda, CZ, 14.12.2006-16.12.2006)

research: CEZ:AV0Z10750506

project(s): MAT-12-C4, MMR

keywords: Pattern Recognition

abstract (eng):

Pattern recognition problem is briefly characterized as a process of machine learning. Its main stages (dimensionality reduction and classifier design) are stated. Statistical approach is given priority here. Two approaches to dimensionality reduction, namely feature selection (FS) and feature extraction (FE) are specified. Though FS is a special case of FE, they are very different from a practical viewpoint and thus must be considered separately.

abstract (cze):

Problém rozpoznávání je stručně charakterizován jako proces strojového učení. Jeho hlavní etapy (redukce dimenzionality, návrh klasifikátoru) jsou definovány. Prioritou článku je statistický přístup. Dva přístupy k redukci dimenzionality - výběr příznaků (FS) a extrakce příznaků (FE) jsou zmíněny. Přestože je FS speciálním případem FE, tyto přístupy se velmi liší z praktického pohledu a proto musí studovány odděleně.

RIV: BD