Ústav teorie informace a automatizace

Jste zde

Bibliografie

Conference Paper (international conference)

A model of random point processes with mutually dependent intensities

Volf Petr

: Proceedings of Sixth Annual Enbis Conference, p. 101

: Annual Enbis Conference /6./, (Wroclaw, PL, 18.09.2006-20.09.2006)

: CEZ:AV0Z10750506

: 1M06047, GA MŠk

: intensity of failure, degradation, Cox regression model, reliability

(eng): X case is considered that more random point processes run simultaneously, the development and events of one influencing the intensity of others. The case is encountered typically when analyzing technological processes with mutually dependent events like failures and certain important marks, which can or cannot be controlled and flag possible degradation and/or changes of failure intensity. The framework of random point and compound processes is used for the analysis and also prediction of such a system behaviour. This framework allows to treat such cases via regression models for intensities. The main body of the paper is devoted to the compound point process describing the degradation of a system and thus leading to its failure. An artificial example is solved, too.

(cze): V analýze spolehlivosti a procesů poruch technických zařízení se často modeluje několik náhodných procesů, které se vzájemně ovlivňují. V této práci se uvažuje proces s přírůstky, který charakterizuje degradaci zařízení a ovlivňuje intenzitu poruch jako regresor v regresním modelu. Je uvažován cixův regresní model pro časy i velikost přírůstků a navržena metoda statistického odhadu. Ilustrace uvádí uměle generovaný příklad a jeho řešení.

: 12B

: BB

07.01.2019 - 08:39